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Product Center當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心電力設(shè)備電阻測(cè)試儀SN/RTS-4北京單晶硅物理測(cè)試儀
北京單晶硅物理測(cè)試儀
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產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章品牌 | FR/富瑞 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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類型 | 數(shù)字式電阻測(cè)試儀 | 測(cè)量范圍 | 0.0001~2000ω.cmMΩ |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,電子 |
數(shù)字式四探針測(cè)試儀 薄層電阻測(cè)定儀
型號(hào):SN/RTS-4
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
北京單晶硅物理測(cè)試儀運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
北京單晶硅物理測(cè)試儀儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。
四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,通過此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到excel中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析
技術(shù)參數(shù):
測(cè)量范圍:電阻率:0.0001~2000ω.cm(可擴(kuò)展);
方塊電阻:0.001~20000ω/□(可擴(kuò)展);
電導(dǎo)率:0.0005~10000 s/cm;
電阻:0.0001~2000ω.cm;
可測(cè)晶片直徑:140mmx150mm(配s-2a型測(cè)試臺(tái));
200mmx200mm(配s-2b型測(cè)試臺(tái));
400mmx500mm(配s-2c型測(cè)試臺(tái));
恒流源:電流量程分為0.1ma、1ma、10ma、100ma四檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表:量程及表示形式:000.00~199.99mv;
分辨力:10μv;
輸入阻抗:>1000mω;
精度:±0.1% ;
顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動(dòng)顯示;
四探針探頭基本指標(biāo):間距:1±0.01mm;
針間絕緣電阻:≥1000mω;
機(jī)械游移率:≤0.3%;
探針:碳化鎢或高速鋼ф0.5mm;
探針壓力:5~16 牛頓(總力);
應(yīng)用參數(shù):(見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差(按jjg508-87進(jìn)行):0.1ω、1ω、10ω、100ω小于等于0.3%±1字
整機(jī)測(cè)量 大相對(duì)誤差:(用硅標(biāo)樣片:0.01-180ω.cm測(cè)試)≤±5%
整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度:≤5%
測(cè)試模式:可連接電腦測(cè)試也可不連接電腦測(cè)試
軟件功能(選配):軟件可記錄、保存、打印每一點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù),并統(tǒng)計(jì)分析測(cè)試數(shù)據(jù) 大值、 小值、平均值、 大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數(shù)據(jù)生成直方圖,也可把測(cè)試數(shù)據(jù)輸出到excel中,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。軟件還可選擇自動(dòng)測(cè)量功能,根據(jù)樣品電阻大小自動(dòng)選擇適合電流量程檔測(cè)試。
計(jì)算機(jī)通訊接口:并口,高速并行采集數(shù)據(jù),連接電腦使用時(shí)采集數(shù)據(jù)到電腦的時(shí)間只需要1.5秒
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境:溫度:23±2℃;相對(duì)濕度:≤65%;無高頻干擾;無強(qiáng)光直射。