探針測試臺 中測臺 點測機
型號:SN/ST-102B
北京探針測試臺(英文叫Prober station,中文又稱中測臺,點測機。)、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。
北京探針測試臺(英文叫Prober station,中文又稱中測臺,點測機。)、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。
技 術 指 標 : |
工作臺面 | 370mm*245mm | 載物臺直徑 | 4" | 光學參數(shù) | 總放大率:21-135倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm; | 精密旋轉(zhuǎn)臺 | 粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°; 銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm | 三維探針座 | 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ; 三維探針座在工作臺面可任意位置固定,由磁性開關控制; zui多可布三維探針座6個; 探針臂伸出長度:60mm; 探針長度:40mm; | 探針 | 探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm; |
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標準配置:主工作臺、CCD攝像頭、監(jiān)視器、三維微調(diào)座2個、探針臂2支、探針2支。 可選配件:三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶的實際需求進行訂做。 |
技 術 指 標 : |
工作臺面 | 370mm*245mm | 載物臺直徑 | 4" | 光學參數(shù) | 總放大率:21-135倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm; | 精密旋轉(zhuǎn)臺 | 粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°; 銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm | 三維探針座 | 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ; 三維探針座在工作臺面可任意位置固定,由磁性開關控制; zui多可布三維探針座6個; 探針臂伸出長度:60mm; 探針長度:40mm; | 探針 | 探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm; |
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標準配置:主工作臺、CCD攝像頭、監(jiān)視器、三維微調(diào)座2個、探針臂2支、探針2支。 可選配件:三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶的實際需求進行訂做。 |