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北京直讀式鐵損測(cè)試儀
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相關(guān)文章| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,地礦,電子 |
直讀式鐵損測(cè)試儀 硅鋼片鐵損儀
型號(hào)：GR/DAC-IR-3
北京直讀式鐵損測(cè)試儀 【特 征】
觸摸式按鈕設(shè)計(jì)。
測(cè)量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。
磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
大和小雙測(cè)試探頭配置，小探頭zui小測(cè)試寬度8mm以上。
RS-232C通訊接口，可外接小型打印機(jī)(增選件)。
北京直讀式鐵損測(cè)試儀 【功 能】
·測(cè)試范圍：0.10～19.99 W/kg；
·磁通密度：1.0T、1.5T、1.7T；
·試樣厚度：0.05～0.99mm；
·試樣寬度：zui小2mm (5mm以上保證設(shè)計(jì)精度，形狀不規(guī)則(非長(zhǎng)方形)的復(fù)雜沖壓片，可任意設(shè)定相近的有效寬度)；
·測(cè)試精度：≤±5% (JIS Epstein方圈法比較)；
·測(cè)試頻率：50Hz/60Hz；
·使用電源：AC100-240V。
【尺寸重量】
·主 機(jī)(81M/DAC-IR-3)尺寸:W(188)×H(103)×D(287) mm
·重 量：主機(jī) 約5 Kg
【特 征】
觸摸式按鈕設(shè)計(jì)。
測(cè)量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。
磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
大和小雙測(cè)試探頭配置，小探頭zui小測(cè)試寬度8mm以上。
RS-232C通訊接口，可外接小型打印機(jī)(增選件)。
【功 能】
·測(cè)試范圍：0.10～19.99 W/kg；
·磁通密度：1.0T、1.5T、1.7T；
·試樣厚度：0.05～0.99mm；
·試樣寬度：zui小2mm (5mm以上保證設(shè)計(jì)精度，形狀不規(guī)則(非長(zhǎng)方形)的復(fù)雜沖壓片，可任意設(shè)定相近的有效寬度)；
·測(cè)試精度：≤±5% (JIS Epstein方圈法比較)；
·測(cè)試頻率：50Hz/60Hz；
·使用電源：AC100-240V。
【尺寸重量】
·主 機(jī)(81M/DAC-IR-3)尺寸:W(188)×H(103)×D(287) mm
·重 量：主機(jī) 約5 Kg
【特 征】
觸摸式按鈕設(shè)計(jì)。
測(cè)量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。
磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
大和小雙測(cè)試探頭配置，小探頭zui小測(cè)試寬度8mm以上。
RS-232C通訊接口，可外接小型打印機(jī)(增選件)。
【功 能】
·測(cè)試范圍：0.10～19.99 W/kg；
·磁通密度：1.0T、1.5T、1.7T；
·試樣厚度：0.05～0.99mm；
·試樣寬度：zui小2mm (5mm以上保證設(shè)計(jì)精度，形狀不規(guī)則(非長(zhǎng)方形)的復(fù)雜沖壓片，可任意設(shè)定相近的有效寬度)；
·測(cè)試精度：≤±5% (JIS Epstein方圈法比較)；
·測(cè)試頻率：50Hz/60Hz；
·使用電源：AC100-240V。
【尺寸重量】
·主 機(jī)(81M/DAC-IR-3)尺寸:W(188)×H(103)×D(287) mm
·重 量：主機(jī) 約5 Kg
【特 征】
觸摸式按鈕設(shè)計(jì)。
測(cè)量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。
磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
大和小雙測(cè)試探頭配置，小探頭zui小測(cè)試寬度8mm以上。
RS-232C通訊接口，可外接小型打印機(jī)(增選件)。
【功 能】
·測(cè)試范圍：0.10～19.99 W/kg；
·磁通密度：1.0T、1.5T、1.7T；
·試樣厚度：0.05～0.99mm；
·試樣寬度：zui小2mm (5mm以上保證設(shè)計(jì)精度，形狀不規(guī)則(非長(zhǎng)方形)的復(fù)雜沖壓片，可任意設(shè)定相近的有效寬度)；
·測(cè)試精度：≤±5% (JIS Epstein方圈法比較)；
·測(cè)試頻率：50Hz/60Hz；
·使用電源：AC100-240V。
【尺寸重量】
·主 機(jī)(81M/DAC-IR-3)尺寸:W(188)×H(103)×D(287) mm
·重 量：主機(jī) 約5 Kg
【特 征】
觸摸式按鈕設(shè)計(jì)。
測(cè)量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。
磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
大和小雙測(cè)試探頭配置，小探頭zui小測(cè)試寬度8mm以上。
RS-232C通訊接口，可外接小型打印機(jī)(增選件)。
【功 能】
·測(cè)試范圍：0.10～19.99 W/kg；
·磁通密度：1.0T、1.5T、1.7T；
·試樣厚度：0.05～0.99mm；
·試樣寬度：zui小2mm (5mm以上保證設(shè)計(jì)精度，形狀不規(guī)則(非長(zhǎng)方形)的復(fù)雜沖壓片，可任意設(shè)定相近的有效寬度)；
·測(cè)試精度：≤±5% (JIS Epstein方圈法比較)；
·測(cè)試頻率：50Hz/60Hz；
·使用電源：AC100-240V。
【尺寸重量】
·主 機(jī)(81M/DAC-IR-3)尺寸:W(188)×H(103)×D(287) mm
·重 量：主機(jī) 約5 Kg
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